铜活化DT中子测量系统
产品简介: 铜活化DT中子测量系统能直接测量能量为10 MeV以上快中子通量。系统包铜片、屏蔽体、探测器、高压电源、高速数字化仪、以及FPG实时处理固件,能够在实时记录铜活化后的正电子衰变强度,从而推知快中子通量。可用于科学实验,聚变研究等领域。
产品特色

[1].系统全集成

-集探测器,位移装置、铅屏蔽、测量电子学与一体

[2].技术先进

搭载最新的数字化符合测量电子学技术

[3].高时间精度

最小符合时间低至10ns

[4].高本底抑制能力
利用65Cu(n,2n)64Cu、63Cu(n, 2n)62Cu核反应以及正电子符合测量,可降低本底至400倍以下
典型应用

[1].聚变研究

[2].高校教育

[3].符合测量

测量结构框图
typical Applications

FPGA逻辑结构框图
typical Applications
内部符合测量逻辑结构示意图

实验结果
typical Applications
使用活化铜样品在188s冷却后2000s的符合计数衰减曲线